内漏的分型与影像表现
内漏指EVAR术后动脉瘤囊内持续有血流灌注。传统分型中，IV型内漏是血液经覆膜支架材料的孔隙渗漏，与移植物的高孔隙率有关，尤其在患者完全抗凝时容易在术中血管造影立即显示，表现为瘤囊轻度混浊但无明确的内漏来源。这种渗漏通常在30天内自行消退，一般不需要治疗，在新一代设备中已不常见。
V型内漏又称内张力，指动脉瘤囊持续增大但影像上找不到I-IV型内漏的证据。可能原因是血流速度极慢低于成像方法的检测限度，也可能与血清瘤、感染或脉搏波经移植物周围传导至瘤壁有关。随访CT可见囊径增加而无内漏征象，直接穿刺可抽出浆液性或轻微出血的内容物。
分支支架相关的新分型内漏
针对分支或开窗支架，内漏分型增加了Ic和IIIc型。Ic型是分支支架或开窗密封部位的内漏，IIIc型是分支支架组件连接处的内漏。此外III型还包括分支支架的撕裂、穿孔或断裂等完整性问题。
影像上，IIIc型内漏表现为分支支架组件分离处出现对比剂外溢进入瘤囊。例如腹腔干开窗支的组件分离可导致大的IIIc型内漏，同时可能合并其他类型内漏。识别时需仔细观察各分支支架的连接部位和密封性，与I型内漏的附着点渗漏相区分。
支架移植物血栓形成与闭塞
支架移植物血栓形成发生率可达5%。早期闭塞多因支架肢体扭曲或小直径支架延伸至外动脉；晚期闭塞常与移植物迁移、组件错位导致血流动力学紊乱有关。CTA表现为沿内移植物内壁的无强化同心或偏心低密度充盈缺损，可导致管腔严重狭窄甚至完全闭塞。
鉴别上，血栓形成的低密度充盈缺损不强化，与内漏的对比剂外溢不同。发现血栓后建议短期随访，因为可能演变为闭塞。治疗包括血栓切除、重新衬里、抗凝或外科旁路。
支架移植物迁移与扭结
支架移植物迁移指装置位置移动，1年左右发生率约3.6%。常见于初始贴壁不足或动脉瘤形态后续变化，近端固定不充分、短颈、成角、锥形颈部及囊径变化均为危险因素。迁移超过5-10mm被认为显著。迁移可导致I型内漏（附着点移位）、III型内漏（组件分离或破裂）以及设备扭结。
设备扭结常继发于囊径缩小和移植物迁移，扭结本身又可加重迁移、内漏和血栓。影像上，MPR和MIP可显示金属支架结构变形，需观察支架内对比剂的线性和限定边缘以判断移植物完整性。轴位和MIP图像上可见支架向尾侧迁移并继发近端I型内漏。
移植物感染与穿刺部位并发症
移植物感染罕见但死亡率高，最常见为革兰阳性菌（67%），其中葡萄球菌36%、链球菌17%，厌氧菌和革兰阴性菌各17%，真菌14%。感染常由污染引起，可能与主动脉肠瘘有关。CT表现为覆膜支架周围脂肪绞合、积液、异常强化和气泡。气泡需与术后早期少量气体鉴别，结合临床感染征象和随访变化。
穿刺部位并发症包括动脉破裂（对比剂外渗）、夹层（线性腔内低密度内膜瓣）、假性动脉瘤（动脉壁撕裂伴血液聚集，靠近入口部位）和血栓形成，以及局部血肿、感染、淋巴囊肿。假性动脉瘤在CTA上表现为入口部位附近的对比剂充盈囊腔，可伴有外溢。
肾脏并发症与报告要点
EVAR术后肾脏并发症包括对比剂肾病、肾动脉闭塞导致的肾缺血（常因移植物放置不足）、副肾动脉阻塞导致的部分肾缺血以及动脉粥样硬化血管导管操作引起的栓塞性缺血。CT上肾梗死表现为对比增强扫描中界限分明的楔形低密度区。
报告时应描述肾动脉狭窄或闭塞、肾实质灌注异常和体积变化。轴位CT用于监测支架术后肾动脉通畅性，MIP和CPR是检测狭窄和闭塞的补充手段。多平面重建有助于显示副肾动脉和节段性梗死。
