端脑的组成与分叶
端脑包括左右大脑半球及深部的纹状体等灰质核团，两侧半球由胼胝体相连。大脑半球表面覆盖大脑皮质，皮质下为白质、基底节和侧脑室。胚胎发育上端脑由前脑泡演化而来，与间脑、中脑、后脑、延髓等结构共同构成中枢神经的连续序列。
大脑半球借三条主要沟裂分区：中央沟分隔额叶与顶叶，外侧裂分隔额叶、顶叶与颞叶，顶枕沟分隔顶叶与枕叶。岛叶隐藏于外侧裂深部，需分开外侧裂才能显露。影像上判断病变位于哪一叶，首先就是依据这三条沟裂定位。
大脑半球外侧面沟回
外侧面以中央沟为界，其前方为额叶，后方为顶叶。中央沟前有中央前回，后有中央后回，分别对应运动与感觉皮质。额叶下方外侧裂前部为岛盖，覆盖岛叶。颞叶位于外侧裂下方，枕叶位于半球后部。
读片时沿中央沟走行可区分额顶叶，避免将中央前回病变误判为顶叶病变。外侧裂增宽或移位提示岛叶及岛盖区萎缩或占位效应，需结合深部结构判断。
岛叶与岛环状沟
岛叶位于外侧裂深部，呈三角形，表面有岛长回和岛短回，借岛环状沟与岛盖分界。岛中央沟分隔岛叶前、后部，岛极位于岛叶最前端，岛阈为岛叶与额叶、颞叶移行处。
岛叶皮质及岛环状沟是观察外侧裂区病变的关键标志。岛环状沟模糊或消失提示岛叶肿胀，常见于梗死或肿瘤浸润；岛叶萎缩则表现为外侧裂增宽、岛环状沟加深。
深部结构与侧脑室
半球深部可见胼胝体、透明隔、侧脑室前角、尾状核头、豆状核（壳核）、内囊前肢、屏状核及最外囊等结构。胼胝体嘴位于前角下方，胼胝体体部连接两侧半球，扣带回位于胼胝体上方。
侧脑室前角外侧为尾状核头，两者之间界限清晰；内囊前肢位于尾状核头与豆状核之间。这些结构的位置关系是判断基底节区病变、脑室受压变形及脑白质病变的基础，读片时需逐层对照。
检查与报告要点
报告端脑病变时，应先定位到叶，再描述累及的具体脑回或深部核团，并说明对侧脑室、中线结构的影响。观察岛叶、外侧裂及中央沟的形态变化，有助于区分萎缩、水肿与占位效应。
对于基底节区病变，需明确尾状核头、豆状核、内囊前肢及屏状核的受累范围，避免将内囊梗死误判为基底节肿瘤。结合增强扫描及弥散加权成像，可进一步鉴别缺血、肿瘤与脱髓鞘病变。
