概述与损伤机制
弥漫性轴索损伤（DAI）属于闭合性颅脑损伤，典型机制为突然减速伴旋转暴力。不同密度的组织（如灰质与白质、脑与颅骨）旋转程度不同，在交界处产生牵引力，造成轴索损伤，但轴索很少完全断裂。约80%的病灶在镜下为非出血性，肉眼可见的损伤少见。
损伤部位越深，病情越重。灰白质交界处最常见（占67%），尤其是额颞叶；胼胝体占20%，多位于压部或体部下方；脑干（中脑背外侧和脑桥上部）相对少见但预后差。深部灰质、内囊、外囊、被盖区、穹窿、放射冠和小脑角也可受累。
影像表现
CT平扫对DAI不敏感，常仅显示弥漫性脑肿胀、脑室变小、脑沟脑池变浅，或于皮层下白质、中脑、丘脑等处见点状或线状出血灶。病灶大小从点状至15mm，呈圆形或卵圆形，常为双侧多发。
MRI是诊断DAI的关键。T1WI通常正常，若病灶大于1cm并伴出血，可呈短身高信号，持续3～14天。T2WI和FLAIR上，非出血性病灶呈高信号，出血性病灶呈低信号。T2*GRE对血液成分敏感，出血灶呈低信号，可多发且持续数年，是显示微出血最敏感的常规序列。SWI在发现病灶方面优于GRE。
典型征象与诊断线索
最佳诊断线索为皮质延髓束、胼胝体、深部脑灰质及脑干的点状损伤。病灶常位于灰白质交界处（67%）、胼胝体（20%）和脑干（中脑背外侧、脑桥上部）。几乎都伴有双侧多发病灶。
当患者临床症状（如GCS评分低）与CT表现不成比例时，应高度怀疑DAI，并建议行MRI检查。FLAIR用于检测非出血性病灶，SWI用于显示出血性病灶。GRE序列高信号的数量与颅高压和预后相关。
鉴别诊断与检查要点
DAI需与脑挫裂伤、脑震荡等鉴别。脑挫裂伤多位于皮质表面，出血较明显，常伴蛛网膜下腔出血；DAI病灶位于深部白质、胼胝体和脑干，呈点状或线状，常为双侧多发。脑震荡CT和MRI常无异常发现。
检查时，CT可快速排除需急诊手术的占位性病变，但阴性不能排除DAI。MRI应包含FLAIR和SWI序列，以提高非出血性和出血性病灶的检出率。报告时应描述病灶部位、数量、大小及是否出血，并注明双侧多发特征。
